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雙絲像質計
雙絲像質計被應用在許多X射線應用中,特別是用于評價圖像不清晰度(膠片和數字影像)和數字圖像的基本空間分辨率,根據EN13068 (X射線透視) ,EN14784 和 ISO 13671 (基于成像板的CR)ISO 17636-2 (焊縫的數字放射學-平板探測器)或用ASTM E 2597(數字探測器陣列特性)。新的ISO標準正在準備中,描述使用雙絲像質計測定X射線管的焦斑尺寸的可能性。
 
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